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제목 [미리보는 2012] 엔솔인스트루먼트, 레이저 회절법 이용한 다기능 입도분석기 ’LS 13320’ 전시
작성자 관리자 날짜 2012.05.11 조회수 1051

엔솔인스트루먼트(대표 이훈, www.iensol.co.kr)는 오는 6월 26일(화)부터 29일(목)까지 일산 킨텍스에서 열리는 국제 LED EXPO & OLED EXPO 2012에 참가해  Beckman Coulter사의 입도분석기와 Perkin Elmer사의 UV/VIS Spectrophotometer, FT-IR, DSC, TGA, SEM 등  Image 장비를 선보인다.

LS 13 320은 기존의 레이저 회절 이론의 개념을 뛰어넘은 차세대 입도분석기이다. Fraunhofer 회절이론과 Mie 산란이론은 물론 Beckman Coulter 만의 특허 기술인 PIDS이론을 적용한 Multi-Wavelength를 탑재해 측정범위 0.017µm~2,000µm로, Sub-micron 영역에서의 정확한 미분 측정과 뛰어난 분해능 및 재현성을 보여준다.

Multisizer Series는 입도 분포뿐만 아니라 계수까지 측정가능한 장치이다. 전기저항법(Electrical Sensing Zone Method)으로 알려진 Coulter Principle를 한층 더 개량한 Digital Pulse Processor를 채용해 실시간 입자크기의 변화를 파악할 수 있으며, 측정범위 0.4~1600μm로 입자(세포)의 크기, 정확한 계수(농도), 입자 체적, 입도 분포(개수 기준과 체적 기준), 표면적 분포를 한 번의 측정으로 얻을 수 있다.

( 사진설명: 입도분석기, UV/VIS/NIR, FT-IR, SEM )

PerkinElmer 사의 UV/VIS/Spectrometer는 물질의 조성 및 성분함량은 물론 DNA 정량까지 수행 가능하며, 광학재료 및 반도체 영역까지 확대 분석할 수 있는 고감도 고정밀 제품이다.

FT-IR은 수분과 이산화탄소에 가장 치명적이다. Spectrum Two 제품과 High-End 제품인 Frontier 모델은  AVC(Atmospheric Vapor Com-pensation) 기능이 내장돼 공기 중의 수분이나 이산화탄소의 실시간 보정이 가능하고, APV(Automatic Precision Validation system) 기능으로 최적의 품질관리를 이끌어낼 수 있다.

SEM은 미세 구조물의 형상과 구성 성분들의 조성을 정량, 정성적으로 측정할 수 있는 정밀기기로써 기초과학의 발전을 위해 필수적인 도구이다.

Normal SEM인 CX-200는 최대 30만배까지 배율 조정이 가능하고 강력한 터보펌프를 기본사양으로 채택해 시동 후 3분이면 측정이 가능하다.

Mini SEM 인 EM-30은 최대10만배까지 배율 조정이 가능하고 Auto-stage 및 Auto-control 기능으로 빠르고 편리한 운용이 가능하다.

한편, 올해로 10회째를 맞는 국제 LED EXPO(www.ledexpo.com) & OLED EXPO(www.oledexpo.com) 2012′는 산업을 이끌어 갈 업계 종사자와 바이어를 매칭시키는 국내 최대 규모의 LED 분야 대표 전시회이다.

미국상무성으로부터 국제 무역 전시회로 인증을 받고, 이에 미상무성에서 파빌리온 구성을 진행 중에 있다. 또한 전시 주최측은 참가 기업들의 비즈니스 성과 향상을 위해 코트라를 통해 100여 명의 해외 유수의 바이어를 모집했고, 별도로 해외 VIP 바이어 초청을 마친 상태이다.

올해는 국제 DID EXPO 2012′가 동시 개최돼 LED & OLED 기술이 사인과 옥외광고 및 3D로 적용되는 발전상을 한눈에 볼 수 있는 좋은 기회가 될 것으로 보이며, 국제 LED and Green Lighting Seminar 2012, 신기술개발 우수업체 정부시상 등 다양한 부대행사도 있을 예정이다.

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