중우(대표 윤무영, www.jwm-tech.co.kr)는 오는 28일까지 고양 킨텍스에서 열리는 `국제 LED EXPO & OLED EXPO(Int`l LED EXPO & OLED EXPO 2013)`에 참가해 휘도, 색뿐만 아니라 얼굴까지 측정 가능한 휘도 측정 시스템 `Lumea-Scale`을 선보였다.
이 시스템은 BLU(Black Light Unit)와 같이 휘도가 나타나는 대상체를 종래의 색채휘도계를 대신해 CCD컬러 카메라 화상을 찍어 면 전체에 대한 각종 얼룩을 2차원 화상 부포로 측정하는 장치이다.
한편, 올해로 11회째를 맞이하는 `국제 LED EXPO & OLED EXPO 2013`에는 총 13개국 약 300개 업체가 700여 부스의 대규모로 참가했다. 전시기간 동안 업체들은 LED•OLED 관련 조명과 장비, 부품, 애플리케이션, 소재 및 연구기관에 이르기까지 폭넓은 범주의 다양한 콘텐츠 제품을 참관객에게 선보이면서, LED 산업의 현 주소를 점검하고 글로벌 경쟁력을 확보하기 위한 전략을 제시한다.
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